掃描電鏡(SEM)作為一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)的研究中。其通過掃描樣品表面并利用電子束與樣品的相互作用來獲得圖像和其他信息,能夠顯微地觀察材料表面的微結(jié)構(gòu)、形貌及成分等。而國產(chǎn)鎢燈絲掃描電鏡,作為一種特殊的SEM設(shè)備,利用鎢燈絲作為電子源,具備了優(yōu)異的性能,尤其在材料科學(xué)領(lǐng)域中發(fā)揮了重要的作用。在材料科學(xué)中,特別是在分析金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料以及納米材料等方面,具有重要作用。國產(chǎn)鎢燈絲掃描電鏡在這些領(lǐng)域中的應(yīng)用可具體體現(xiàn)以下幾個(gè)方面:1、金屬材料...
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